本附錄規(guī)定了工件厚度10mm～80mm奧氏體不銹鋼對接接頭的超聲檢測方法和質(zhì)量分級。
按本附錄進(jìn)行檢測的人員，應(yīng)接受一定時間的有關(guān)奧氏體不銹鋼對接接頭超聲檢測方法的培訓(xùn)。對奧氏體鋼的材料特性、焊接特性、焊縫組織及聲學(xué)特性、窄脈沖雙晶聚焦探頭的聲場特性有一定了解。對檢測中可能出現(xiàn)的問題能做出正確的分析、判斷和處理。
I.3.1.2 一般選用折射角為45°（K1）的探頭，如需要也可選用其他折射角的探頭。
I.3.1.3 使用雙晶縱波斜探頭或聚焦縱波斜探頭檢測時，應(yīng)根據(jù)聲束會聚范圍和檢測深度選擇探頭。當(dāng)壁厚較厚時，可選用多探頭分區(qū)掃查，各分區(qū)范圍應(yīng)相互覆蓋不低于15%。表I.1給出了不同檢測深度下探頭折射角（K值）和探聲束會聚深度的推薦選擇。
選擇的檢測儀應(yīng)與選用的探頭相匹配，以便獲得靈敏度和信噪比。聲束通過母材和通過焊接接頭分別測繪的兩條距離-波幅曲線dB。掃查靈敏度應(yīng)使檢測范圍內(nèi)聲程處反射體回波高度達(dá)到20%，信噪比應(yīng)達(dá)到2:1。
I.4.1 對比試塊的材料應(yīng)與被檢材料相同。試塊的中部設(shè)置一條對接接頭，該焊接接頭的坡口型式應(yīng)與被檢焊接接頭相似，并采用同樣的焊接工藝制成。
I.4.3 對比試塊的形狀和尺寸（推薦）如圖I.1～圖I.3所示。圖I.1對比試塊適用于工件厚度范圍為10mm～20mm，圖I.2對比試塊適用于工件厚度范圍為20mm～40mm，圖I.3對比試塊適用于工件厚度范圍為40mm～80mm。
I.5 距離-波幅曲線 距離-波幅曲線由選定的探頭、儀器組合在對比試塊上實測數(shù)據(jù)繪制。在焊縫兩側(cè)進(jìn)行檢測時，用焊縫中心的橫孔制作距離-波幅曲線確定靈敏度和評定；只在焊縫單側(cè)檢測時，應(yīng)使聲束應(yīng)通過焊縫金屬，利用熔合區(qū)橫孔制作距離-波幅曲線確定靈敏度和評定。評定線至定量線以下區(qū)域為I區(qū)；定量線至判廢線以下區(qū)域為II區(qū)；判廢線及以上區(qū)域為III區(qū)。判廢線（RL）、定量線（SL）和評定線（EL）的靈敏度見表I.2。
表I.2 距離-波幅曲線 為比較焊接接頭組織與母材的差異，可使聲束只經(jīng)過母材區(qū)域，利用熔合區(qū)橫孔測繪另一條距離-波幅曲線 檢測面
原則上在焊接接頭的雙面雙側(cè)實施一次波法（直射法）檢測。受幾何條件限制，只能在焊接接頭單面或單側(cè)實施檢測時，應(yīng)將焊接接頭余高磨平或改變K值，用兩種或兩種以上折射角的縱波斜探頭進(jìn)行檢測，盡可能檢測到整個檢測區(qū)。
I.6.2.1 焊接接頭兩側(cè)的探頭移動區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)。去除余高的焊接接頭，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。
N≥1.5Kt ···································· （I.1）
I.7.1.1 檢測靈敏度不應(yīng)低于評定線靈敏度，此時在檢測范圍內(nèi)聲程處的評定線高度不應(yīng)低于熒光屏滿刻度的20%。如果信噪比允許，應(yīng)再提高6dB。
I.7.1.2 對波幅超過評定線的回波，不銹鋼澆鑄件應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反射波位置及焊接接頭情況，判斷其是否為缺陷回波。為避免變形橫波的干擾，應(yīng)著重觀察顯示屏靠前的回波。
I.7.2.1 為檢測縱向缺陷，斜探頭應(yīng)在垂直于焊接接頭方向作鋸齒型掃查。探頭前后移動的距離應(yīng)保證聲束掃查到整個焊接接頭截面及熱影響區(qū)。掃查時，探頭還應(yīng)作10°～15°的轉(zhuǎn)動。如不能轉(zhuǎn)動，應(yīng)適當(dāng)增加探頭聲束的覆蓋區(qū)。
I.7.2.2 為確定缺陷位置、方向、形狀，觀察動態(tài)波形或區(qū)分缺陷波與偽信號，不銹鋼澆鑄件可采用前后、左右、不銹鋼澆鑄件轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。也可使用直探頭對缺陷位置進(jìn)行輔助檢測。
I.7.3.1 保留余高的焊接接頭，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使斜探頭與焊接接頭中心線°的斜平行掃查，見圖I.5a。
I.7.3.2 去除余高的焊接接頭，將探頭置于焊接接頭表面作兩個方向的平行掃查，見圖I.5b。
I.9.1 超過評定線的回波應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征，并結(jié)合缺陷位置、動態(tài)波形及工藝特征作判定。如不能作出準(zhǔn)確判斷應(yīng)輔以其他方法作綜合評定。
I.9.2 相鄰兩缺陷間距小于較小缺陷長度時，作為一條缺陷處理，兩缺陷長度之和作為單個缺陷指示長度。條狀缺陷近似分布在一條直線上時，以兩端點距離作為其間距；點狀缺陷以兩缺陷中心距離作為間距。
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